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NI 第十四届PXI技术和应用论坛强势来袭
来源: | 作者:leveltech6 | 发布时间: 2017-04-21 | 5574 次浏览 | 分享到:

活动介绍

       第十四届PXI技术和应用论坛(PXI TAC2004年创办以来经过14年积累,有超过两万工程师积极参与,见证了PXI技术诞生20年以来的每一个重大突破,已经是中国地区最大、最具影响力的PXI技术专业论坛。美国国家仪器作为PXI技术的创始者和业界领导者,旨在帮助全球的工程师借用PXI来加快测试执行时间、提高软件开发效率,提高处理能力并增强可扩展性,从而极大地缩减总系统成本。随着智能设备的大爆发,智能设备的复杂性和集成度提升,对于测试来说也带来了更加严峻的挑战。而面对智能设备,NI应用PXI平台化的方法打造面向未来的智能测试系统,在PXI TAC中在物联网、消费电子、射频通信、汽车电子和国防科研等领域,与众多行业提供优秀的解决方案的合作伙伴一起,将更领先更高质量的产品和应用案例呈现给广大客户,为本地市场服务。PXITAC 2017期待您的参与!

   【会议时间】511 9:00-17:00

   【会议地点】深圳华侨城洲际大酒店(中国广东省深圳市南山区华侨城华侨城深南大道9009号)

   【精彩会议专题抢先知】!New

        30篇专题演讲共享行业饕鬄大餐,由行业领军人物与您分享最新最全最前沿测试领域技术干货。

   【特别活动:PXI自选实验站】!HOT

    在PXI自选实验站里根据自己的需求,DIY配置您的自动测试系统。PXI的灵活体验,即刻拥有!更有NI工程师提供现场技术咨询。

自选实验站将为您提供:

      1.灵活可配置的PXI软硬件(包括NI LabVIEWTestStand,以及数据采集、示波器、波形发生器等众多PXI硬件) 2.专业的现场技术咨询; 3.丰富的测试方案以及学习材料等等。

   【动手课程】

    活动当天特别安排基于PXI构建自动化测试系统动手课程,使您有机会动手体验基于PXI平台和LabVIEW,TestStand等软件规划、设计、开发、实现并优化一个完整自动化测试系统的全过程。

   【业界顶尖产品及应用展示】

       ● 智能测试平台区:如今的智能设备复杂性和集成度上升,需要用更智能的系统进行测试。NI采用平台化的方法实现智能测试,充分利用开放的软件,灵活的模块化仪器和充满活力的生态系统帮助工程师提高测试效率,降低测试成本。

       ● 物联网及消费电子应用 物联网时代各种智能产品百花齐放,面对纷繁众多的测试任务,无论是面向物联网协议测试,还是智能硬件设备自动化测试,NI的平台将进一步为物联网和消费电子提供便利。

       ● 射频与无线通信应用 NI业界领先的射频技术,满足从最新5G技术研发到大规模产线测试的要求。而重新定义射频仪器的第二代矢量信号收发仪以1GHz带宽技术持续为业界加码,更好地支持各种复杂射频无线测试任务。

       ● 半导体测试应用 NI提供从实验室研发到量产测试的半导体解决方案,采用统一的软硬件架构通用的方法,提升数据关联性,缩短上市时间。

       ● 汽车电子应用 如今的汽车电子加入了越来越多的创新技术,如ADAS,车载雷达,互联驾驶等,NI为汽车电子领域提供了众多方案,为V型模型从开发到产测的全面技术保障。

       ● 国防及科研应用 NI利用PXI平台,采用灵活的方法,为国防和科研任务作出保障,加速科研创新。

       ● 客户服务区:NI工程师现场为您提供技术维修服务咨询和优化的客户培训课程,确保仪器的使用寿命完全满足您的需求。

详情请进入以下链接:第十四届PXI技术和应论坛